北京瑞亿斯RYS-DBC-031晶闸管测试仪伏安特性触发电压触发电流维持电流测试仪生产厂家哪里购买

RYS-DBC-031晶闸管测试仪/晶闸管伏安特性测试仪/晶闸管触发电压、触发电流、维持电流测试仪

RYS-DBC-031晶闸管测试仪/晶闸管伏安特性测试仪/晶闸管触发电压、触发电流、维持电流测试仪

晶闸管测试仪生产厂家   晶闸管伏安特性测试仪哪里购买

晶闸管触发电压、触发电流、维持电流测试仪

北京瑞亿斯科技有限公司 如何怎么使用和哪里购买

RYS-DBC-031晶闸管测试仪用于测试普通可控硅、双向可控硅、快速可控硅和可控硅模块的如下参数：

1、触发电流（IGT）；

2、触发电压（VGT）；

3、维持电流（IH）；

4、数字显示测试结果,自动测试。

主要技术参数指标

1、测量范围： 触发电流1-450mA；

              触发电压0-7V；

              维持电流1-450mA。

2、外形尺寸：440×440×150mm

3、整机重量：10kg

1 概述

RYS-DBC-031晶闸管测试仪本仪器是晶闸管触发电压VGT、触发电流IGT和维持电流IH三项参数的**测试设备。适用于各种反向阻断晶闸管，逆导晶闸管及双向晶闸管的参数测试。本测试仪设计xian进，结构合理，操作简便。并具有数字显示，自动测试等功能。其技术指标符合GB4024-83标准的规定，是电力半导体器件生产厂和使用单位Z为理想的检测设备。

2 技术参数

2.1 A(T2)、K(T1)间的断态电压：DC 12V(内部限流电阻6.8Ω)。

2.2 触发电流、维持电流测量范围：1-450mA

2.3 触发电压测量范围：0-7V

2.4 测量时间：小于2S

2.5 工作条件

电源:AC 220V±10%  50HZ

温度：0-40℃

2.6 整机功耗：小于75VA

2.7 整机重量：约10Kg

2.8 整机尺寸：440×440×150mm

3 结构特征

本仪器为箱式结构，数字显示，读数直观方便。前部是面板，装有控制键、数字显示表和接线端子等。后盖板上装有三芯电源插座和保险丝盒(保险丝为0.5A/250V)。三线电源插头的地端要可靠接地，以确保测试人员的安全和测试精度。

4 操作使用方法

4.1 面板说明(参见面板图) 

4.1.1 “电源”开关

此开关掷向开时，内藏指示灯亮，电源接通。

4.1.2 “A(T2)、K(T1)、G”接线端子

被测器件接线端子

4.1.3 “mA”电流显示表

显示被测器件的触发(维持)电流，单位毫安。

4.1.4 “V”电压显示表

显示被测器件的触发电压，单位伏特。

4.1.5“IGⅠ+”触发象限选择键

按动此键，内藏指示灯亮，主回路A(T2)接正、K(T1)接负、G接正，仪器处于触发电流待测状态。

4.1.6 “IGⅠ-”触发象限选择键

按动此键，内藏指示灯亮，主回路A(T2)接正、K(T1)接负、G接负，仪器处于触发电流待测状态。

4.1.7 “IGⅢ-”触发象限选择键

按动此键，内藏指示灯亮，主回路A(T2)接负、K(T1)接正、G接负，仪器处于触发电流待测状态。

4.1.8 “IH”功能选择键

按动此键，内藏指示灯亮，“mA”电流显示表显示大于“450”的某一数值，仪器处于维持电流待测状态。

4.1.9 “复位”键

按动此键，在触发参数待测状态下，“mA”电流和“V”电压显示表显示零。在维持电流待测状态下，“mA”电流表显示大于“450”的某一数值，“V”电压表显示的数值无意义。

4.1.10 “测试”键

按动此键，仪器开始根据功能选择键所处的状态，自动进行相应的测试。测试过程中，测试键内藏指示灯亮，测完后，指示灯自动熄灭。

4.2 电源线连接

三线电源插头的地端要可靠接地，以确保测试人员的安全和测试精度。

4.3 测试步骤

4.3.1 打开“电源”开关。

4.3.2 将被测器件接在“A、K、G”接线端子上。

4.3.3 选择“IGⅠ+”、“IGⅠ-”、“IGⅢ-”触发象限功能键或“IH”维持电流功能键。

测试普通、快速晶闸管选择“IGⅠ+”，测试KS双向晶闸管分别选择“IGⅠ+”、“IG Ⅰ-”、“IGⅢ-”，测试维持电流选择“IH”。

4.3.4 按动“复位”键

如仪器处于触发参数待测状态，电流、电压显示表回零。如仪器处于维持电流待测状态，电流显示表显示“450”mA左右的某一数值。

4.3.5 按动“测试”键

测触发参数时，电流表和电压表显示的数字由小到大变化，测完自动停止变化；测维持电流时，电流表显示数字由大到小变化，测完自动停止。测试过程中“测试”键内藏指示灯亮，测完后指示灯自动熄灭。此时稳定的显示值即为测量读数。(注：测维持电流时，电压表显示的数值无意义。整个测试过程在2秒内完成)。

4.3.6 更换被测器件后，按4.3.3-4.3.5条操作即可。

注：对同一器件进行多次重复测试，测试过程由于被测器件发热，参数会有所变化，测试中应注意。